Atom probu, 1967'de 3 Ağustos 2020 tarihinde Wayback Machine sitesinde . Erwin Wilhelm Müller ve JA Panitz tarafından 14. Alan Emisyon Sempozyumunda 3 Ağustos 2020 tarihinde Wayback Machine sitesinde . tanıtıldı. Atom probu alan iyon mikroskobu ile tek bir parçacık algılama özelliğine sahip bir kütle spektrometresini birleştirdi ve böylece ilk kez bir alet "... metal bir yüzeyde görülen ve gözlemcinin takdirine bağlı olarak komşu atomlardan seçilen tek bir atomun doğasını belirleyebildi".
Atom probları, geleneksel optik veya elektron mikroskoplarından farklıdır, çünkü büyütme etkisi, radyasyon yollarının manipülasyonundan ziyade oldukça eğimli bir elektrik alanı tarafından sağlanan büyütmeden gelir. Yöntem, doğası gereği tahrip edicidir, iyonları görüntülemek ve tanımlamak için bir numune yüzeyinden uzaklaştırır ve numune yüzeyinden çıkarılırken tek tek atomları gözlemlemek için yeterli büyütmeler üretir. Bu büyütme yönteminin uçuş zamanı kütle spektrometresi ile birleştirilmesi yoluyla, elektrik darbelerinin uygulanmasıyla buharlaşan iyonların kütle-yük oranı hesaplanabilir.
Materyalin art arda buharlaştırılmasıyla, bir numuneden atom katmanları çıkarılır, bu da sadece yüzeyin değil, aynı zamanda materyalin kendisinin de araştırılmasına izin verir. Numunenin buharlaştırılmadan önce üç boyutlu görünümünü yeniden oluşturmak için bilgisayar yöntemleri kullanılır, bir numunenin yapısı hakkında atomik ölçek bilgisi sağlanır ve ayrıca tip atomik tür bilgileri sağlanır. Cihaz, keskin bir uçtan milyarlarca atomun üç boyutlu yeniden yapılandırılmasına izin verir.
Kaynakça
- ^ Müller (1968). "The Atom-Probe Field Ion Microscope". Review of Scientific Instruments. 39 (1): 83-86. doi:10.1063/1.1683116. ISSN 0034-6748.
- ^ Müller, E. W. (1970). "The Atom-Probe Field Ion Microscope". Naturwissenschaften. 5: 222-230.
- ^ Atom Probe Microanalysis: Principles and Applications to Materials Problems. Materials Research Society. 1989. ISBN .
- ^ Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level. Kluwer Academic/Plenum Publishers. 2000. ISBN .
Konuyla ilgili yayınlar
- Michael K. Miller, George D.W. Smith, Alfred Cerezo, Mark G. Hetherington (1996) Atom Probe Field Ion Microscopy 27 Kasım 2018 tarihinde Wayback Machine sitesinde . Monographs on the Physics and Chemistry of Materials, Oxford: Oxford University Press. ISBN .
- Michael K. Miller (2000) Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level. New York: Kluwer Academic. ISBN
- Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, SImon P. Ringer (2012) Atom Probe Microscopy, Springer Series in Materials Science, Vol. 160, New York: Springer. ISBN
- David J. Larson, Ty J. Prosa, Robert M. Ulfig, Brian P. Geiser, Thomas F. Kelly (2013) Local Electrode Atom Probe Tomography - A User's Guide 6 Nisan 2014 tarihinde Wayback Machine sitesinde ., Springer Characterization & Evaluation of Materials, New York: Springer. ISBN
Dış bağlantılar
- Video demonstrating Field Ion images, and pulsed ion evaporation[]
- www.atomprobe.com - A CAMECA provided community resource with contact information and an interactive FAQ 30 Ağustos 2013 tarihinde Wayback Machine sitesinde .
- MyScope Atom Probe Tomography - An online learning environment for those who want to learn about atom probe provided by Microscopy Australia 30 Ekim 2020 tarihinde Wayback Machine sitesinde .
wikipedia, wiki, viki, vikipedia, oku, kitap, kütüphane, kütübhane, ara, ara bul, bul, herşey, ne arasanız burada,hikayeler, makale, kitaplar, öğren, wiki, bilgi, tarih, yukle, izle, telefon için, turk, türk, türkçe, turkce, nasıl yapılır, ne demek, nasıl, yapmak, yapılır, indir, ücretsiz, ücretsiz indir, bedava, bedava indir, mp3, video, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, resim, müzik, şarkı, film, film, oyun, oyunlar, mobil, cep telefonu, telefon, android, ios, apple, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, pc, web, computer, bilgisayar
Atom probu 1967 de 3 Agustos 2020 tarihinde Wayback Machine sitesinde Erwin Wilhelm Muller ve JA Panitz tarafindan 14 Alan Emisyon Sempozyumunda 3 Agustos 2020 tarihinde Wayback Machine sitesinde tanitildi Atom probu alan iyon mikroskobu ile tek bir parcacik algilama ozelligine sahip bir kutle spektrometresini birlestirdi ve boylece ilk kez bir alet metal bir yuzeyde gorulen ve gozlemcinin takdirine bagli olarak komsu atomlardan secilen tek bir atomun dogasini belirleyebildi Bir atom probundan elde edilen verilerin gorsellestirilmesi Her nokta tespit edilen buharlastirilmis iyonlardan yeniden yapilandirilmis bir atom pozisyonunu temsil eder Atom problari geleneksel optik veya elektron mikroskoplarindan farklidir cunku buyutme etkisi radyasyon yollarinin manipulasyonundan ziyade oldukca egimli bir elektrik alani tarafindan saglanan buyutmeden gelir Yontem dogasi geregi tahrip edicidir iyonlari goruntulemek ve tanimlamak icin bir numune yuzeyinden uzaklastirir ve numune yuzeyinden cikarilirken tek tek atomlari gozlemlemek icin yeterli buyutmeler uretir Bu buyutme yonteminin ucus zamani kutle spektrometresi ile birlestirilmesi yoluyla elektrik darbelerinin uygulanmasiyla buharlasan iyonlarin kutle yuk orani hesaplanabilir Materyalin art arda buharlastirilmasiyla bir numuneden atom katmanlari cikarilir bu da sadece yuzeyin degil ayni zamanda materyalin kendisinin de arastirilmasina izin verir Numunenin buharlastirilmadan once uc boyutlu gorunumunu yeniden olusturmak icin bilgisayar yontemleri kullanilir bir numunenin yapisi hakkinda atomik olcek bilgisi saglanir ve ayrica tip atomik tur bilgileri saglanir Cihaz keskin bir uctan milyarlarca atomun uc boyutlu yeniden yapilandirilmasina izin verir Kaynakca Muller 1968 The Atom Probe Field Ion Microscope Review of Scientific Instruments 39 1 83 86 doi 10 1063 1 1683116 ISSN 0034 6748 Muller E W 1970 The Atom Probe Field Ion Microscope Naturwissenschaften 5 222 230 Atom Probe Microanalysis Principles and Applications to Materials Problems Materials Research Society 1989 ISBN 978 0 931837 99 9 Atom Probe Tomography Analysis at the Atomic Level Kluwer Academic Plenum Publishers 2000 ISBN 978 0 306 46415 7 Konuyla ilgili yayinlarMichael K Miller George D W Smith Alfred Cerezo Mark G Hetherington 1996 Atom Probe Field Ion Microscopy 27 Kasim 2018 tarihinde Wayback Machine sitesinde Monographs on the Physics and Chemistry of Materials Oxford Oxford University Press 9780198513872ISBN 9780198513872 Michael K Miller 2000 Atom Probe Tomography Analysis at the Atomic Level New York Kluwer Academic 0306464152ISBN 0306464152 Baptiste Gault Michael P Moody Julie M Cairney SImon P Ringer 2012 Atom Probe Microscopy Springer Series in Materials Science Vol 160 New York Springer 978 1 4614 3436 8ISBN 978 1 4614 3436 8 David J Larson Ty J Prosa Robert M Ulfig Brian P Geiser Thomas F Kelly 2013 Local Electrode Atom Probe Tomography A User s Guide 6 Nisan 2014 tarihinde Wayback Machine sitesinde Springer Characterization amp Evaluation of Materials New York Springer 978 1 4614 8721 0ISBN 978 1 4614 8721 0Dis baglantilarVideo demonstrating Field Ion images and pulsed ion evaporation olu kirik baglanti www atomprobe com A CAMECA provided community resource with contact information and an interactive FAQ 30 Agustos 2013 tarihinde Wayback Machine sitesinde MyScope Atom Probe Tomography An online learning environment for those who want to learn about atom probe provided by Microscopy Australia 30 Ekim 2020 tarihinde Wayback Machine sitesinde