Azərbaycanca
Беларускі
Dansk
Deutsch
Española
Français
Indonesia
Italiana
日本語
Қазақ
Lietuvos
Nederlands
Português
Русский
සිංහල
แบบไทย
Türkçe
Українська
中國人
United State
Afrikaans
Düşük enerjili elektron mikroskobu veya LEEM (Low Energy Electron Microscope), maddelerin yüzeylerini mezoskopik boyutlarda incelemeye yarayan bir elektron mikroskobu çeşididir. Elastik olarak yüzeyden geri saçılan düşük enerjili (0-500 elektronvolt) elektronların görüntülenmesi üzerine kuruludur. Yüzeylerin yapısal ve kimyasal özelliklerinin 10 nanometreye varan bir çözünürlükte incelenmesini sağlar. İnce filmler, katalitik yüzeyler, nanoteknolojik sistemler ile ilgili çalışmalardaki öneminin ötesinde, bu mikroskoptaki yüksek sinyal seviyeleri yüzeydeki dinamik değişimleri video hızında canlı olarak takip etmeye olanak tanır.
Düşük enerjili elektron mikroskobu fikir bazında 1962 yılında Ernst Bauer tarafından ortaya atılmıştır. Ernst Bauer diğer araştırmacıların da katkılarıyla icadını 1985'te pratiğe dökmüştür.
Düşük enerjili elektron mikroskobunun avantajlarından bir diğeri elektron optik sisteminin odak düzleminde oluşan düşük enerjili elektron kırınımı (LEED) motifinin kolaylıkla ölçülebilmesidir.
Kaynakça
- Bauer, Ernst (1994). "Low energy electron microscopy". Reports on Progress in Physics. Cilt 57. ss. 895-938.
- Bauer, Ernst (1998). (PDF). Surface Review and Letters. Cilt 5. ss. 1275-1286. 17 Eylül 2004 tarihinde kaynağından (PDF) arşivlendi. Erişim tarihi: 20 Ekim 2007.
Dış bağlantılar
- LEEM Kullanıcılar Topluluğu 24 Haziran 2007 tarihinde Wayback Machine sitesinde . (LEEM User Community) (İngilizce)
wikipedia, wiki, viki, vikipedia, oku, kitap, kütüphane, kütübhane, ara, ara bul, bul, herşey, ne arasanız burada,hikayeler, makale, kitaplar, öğren, wiki, bilgi, tarih, yukle, izle, telefon için, turk, türk, türkçe, turkce, nasıl yapılır, ne demek, nasıl, yapmak, yapılır, indir, ücretsiz, ücretsiz indir, bedava, bedava indir, mp3, video, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, resim, müzik, şarkı, film, film, oyun, oyunlar, mobil, cep telefonu, telefon, android, ios, apple, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, pc, web, computer, bilgisayar
Dusuk enerjili elektron mikroskobu veya LEEM Low Energy Electron Microscope maddelerin yuzeylerini mezoskopik boyutlarda incelemeye yarayan bir elektron mikroskobu cesididir Elastik olarak yuzeyden geri sacilan dusuk enerjili 0 500 elektronvolt elektronlarin goruntulenmesi uzerine kuruludur Yuzeylerin yapisal ve kimyasal ozelliklerinin 10 nanometreye varan bir cozunurlukte incelenmesini saglar Ince filmler katalitik yuzeyler nanoteknolojik sistemler ile ilgili calismalardaki oneminin otesinde bu mikroskoptaki yuksek sinyal seviyeleri yuzeydeki dinamik degisimleri video hizinda canli olarak takip etmeye olanak tanir Yuksek sicaklikta 500 C paladyum Pd atomik katmaninin volfram W kristalinin 110 yuzunde buyurken alinan goruntusu Pd koyu W ise acik kontrast ile gorunuyor Daire seklindeki goruntunun capi 10 mikrondur Zorlukla secilebilen adaciklar ise volfram karbitleridir Dusuk enerjili elektron mikroskobu fikir bazinda 1962 yilinda Ernst Bauer tarafindan ortaya atilmistir Ernst Bauer diger arastirmacilarin da katkilariyla icadini 1985 te pratige dokmustur Dusuk enerjili elektron mikroskobunun avantajlarindan bir digeri elektron optik sisteminin odak duzleminde olusan dusuk enerjili elektron kirinimi LEED motifinin kolaylikla olculebilmesidir KaynakcaBauer Ernst 1994 Low energy electron microscopy Reports on Progress in Physics Cilt 57 ss 895 938 Bauer Ernst 1998 PDF Surface Review and Letters Cilt 5 ss 1275 1286 17 Eylul 2004 tarihinde kaynagindan PDF arsivlendi Erisim tarihi 20 Ekim 2007 Dis baglantilarLEEM Kullanicilar Toplulugu 24 Haziran 2007 tarihinde Wayback Machine sitesinde LEEM User Community Ingilizce