Azərbaycanca
Беларускі
Dansk
Deutsch
Española
Français
Indonesia
Italiana
日本語
Қазақ
Lietuvos
Nederlands
Português
Русский
සිංහල
แบบไทย
Türkçe
Українська
中國人
United State
Afrikaans
Elektron saçılması, elektronların özgün sapmalarıyla meydana gelen saçılmadır. Bu olay, madde etkileşimi esnasındaki elektrostatik kuvvetler ya da dışsal bir manyetik alanın varlığı durumunda, elektronların Lorentz kuvvetinden etkilenmeleri sonucu meydana gelir.
Kaynakça
- ^ "electron scattering". Encyclopædia Britannica (İngilizce). 20 Mayıs 2015 tarihinde kaynağından . Erişim tarihi: 21 Nisan 2019.
- ^ (İngilizce). Uygulamalı Matematik ve Matematiksel Fizik Bölümü. 21 Aralık 2009 tarihinde kaynağından arşivlendi. Erişim tarihi: 21 Nisan 2019.
- ^ Howe, James; (2008). Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (İngilizce) (3. bas.). Berlin: Springer. ISBN .
- ^ Kohl, L. Reimer, H. (2008). Transmission Electron Microscopy Physics of Image Formation (İngilizce) (5. bas.). New York: Springer. ISBN .
wikipedia, wiki, viki, vikipedia, oku, kitap, kütüphane, kütübhane, ara, ara bul, bul, herşey, ne arasanız burada,hikayeler, makale, kitaplar, öğren, wiki, bilgi, tarih, yukle, izle, telefon için, turk, türk, türkçe, turkce, nasıl yapılır, ne demek, nasıl, yapmak, yapılır, indir, ücretsiz, ücretsiz indir, bedava, bedava indir, mp3, video, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, resim, müzik, şarkı, film, film, oyun, oyunlar, mobil, cep telefonu, telefon, android, ios, apple, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, pc, web, computer, bilgisayar
Elektron sacilmasi elektronlarin ozgun sapmalariyla meydana gelen sacilmadir Bu olay madde etkilesimi esnasindaki elektrostatik kuvvetler ya da dissal bir manyetik alanin varligi durumunda elektronlarin Lorentz kuvvetinden etkilenmeleri sonucu meydana gelir Kaynakca electron scattering Encyclopaedia Britannica Ingilizce 20 Mayis 2015 tarihinde kaynagindan Erisim tarihi 21 Nisan 2019 Ingilizce Uygulamali Matematik ve Matematiksel Fizik Bolumu 21 Aralik 2009 tarihinde kaynagindan arsivlendi Erisim tarihi 21 Nisan 2019 Howe James 2008 Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials Ingilizce 3 bas Berlin Springer ISBN 978 3 540 73885 5 Kohl L Reimer H 2008 Transmission Electron Microscopy Physics of Image Formation Ingilizce 5 bas New York Springer ISBN 978 0 387 34758 5