Azərbaycanca
Беларускі
Dansk
Deutsch
Española
Français
Indonesia
Italiana
日本語
Қазақ
Lietuvos
Nederlands
Português
Русский
සිංහල
แบบไทย
Türkçe
Українська
中國人
United State
Afrikaans
Bu madde, ; zira herhangi bir maddeden bu maddeye verilmiş bir bağlantı yoktur. (Ağustos 2022) |
Scan chain ya da Tarama zinciri, IC dizaynı için bir test dizaynı tekniğidir. Buradaki amaç IC içerisindeki her davraşını test etmeyi kolaylaştırmaktır.
Bu teknik basitçe şu şekilde izah edilebilir. Test, testi başlatmak için, dışarıdan girilen scan enable sinyali ile başlatılır. Bu sinyal girildiğinde IC içerisindeki test edilmesi amaçlanan tüm flip-flop'lar uzun bir shift register'a bağlanır. IC'nin clck sinyali ve keyfi bir data kullanılarak flip-flopların çıkışı okunur ve gerekli karşılaştırma yapılır. Eğer çıkan sonuç beklenen sonuç ile aynı ise üretimde bir hatanın olmadığı kanısına varılır.
 | Elektronik ile ilgili bu madde seviyesindedir. Madde içeriğini genişleterek Vikipedi'ye katkı sağlayabilirsiniz. |
wikipedia, wiki, viki, vikipedia, oku, kitap, kütüphane, kütübhane, ara, ara bul, bul, herşey, ne arasanız burada,hikayeler, makale, kitaplar, öğren, wiki, bilgi, tarih, yukle, izle, telefon için, turk, türk, türkçe, turkce, nasıl yapılır, ne demek, nasıl, yapmak, yapılır, indir, ücretsiz, ücretsiz indir, bedava, bedava indir, mp3, video, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, resim, müzik, şarkı, film, film, oyun, oyunlar, mobil, cep telefonu, telefon, android, ios, apple, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, pc, web, computer, bilgisayar
Bu madde oksuz maddedir zira herhangi bir maddeden bu maddeye verilmis bir baglanti yoktur Lutfen ilgili maddelerden bu sayfaya baglanti vermeye calisin Agustos 2022 Scan chain ya da Tarama zinciri IC dizayni icin bir test dizayni teknigidir Buradaki amac IC icerisindeki her davrasini test etmeyi kolaylastirmaktir Bu teknik basitce su sekilde izah edilebilir Test testi baslatmak icin disaridan girilen scan enable sinyali ile baslatilir Bu sinyal girildiginde IC icerisindeki test edilmesi amaclanan tum flip flop lar uzun bir shift register a baglanir IC nin clck sinyali ve keyfi bir data kullanilarak flip floplarin cikisi okunur ve gerekli karsilastirma yapilir Eger cikan sonuc beklenen sonuc ile ayni ise uretimde bir hatanin olmadigi kanisina varilir Elektronik ile ilgili bu madde taslak seviyesindedir Madde icerigini genisleterek Vikipedi ye katki saglayabilirsiniz