Azərbaycanca
Беларускі
Dansk
Deutsch
Española
Français
Indonesia
Italiana
日本語
Қазақ
Lietuvos
Nederlands
Português
Русский
සිංහල
แบบไทย
Türkçe
Українська
中國人
United State
Afrikaans
Atomik kuvvet mikroskobu (AKM) ya da taramalı kuvvet mikroskobu çok yüksek çözünürlüklü bir . Ulaşılmış çözünürlük birkaç nanometre ölçeğinde olup optik tekniklerden en az 1000 kat fazladır. AKM’nin öncülü olan taramalı tünelleme mikroskobu 1980'lerin başında Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer IBM Research - Zürih’te geliştirilmiş, araştırmacılara 1986 Nobel Ödülü'nü kazandırmıştır. Sonrasında Binnig, ve 1986’da ilk atomik kuvvet mikroskobunu geliştirdiler. İlk ticari AKM 1989’da piyasaya sürüldü. AKM, nano boyutta görüntüleme, ölçme ve malzeme işleme konusunda en gelişmiş araçlardan biridir.
Bilgi, mekanik bir ucun yüzeyi algılamasıyla toplanır. Elektronik kumanda üzerinde bulunan, küçük fakat hassas hareketleri sağlayan piezoelektrik öğeler, doğruluğu kesin ve hassas bir tarama sağlar. İletken manivelalar kullanmak suretiyle numune yüzeyindeki elektrik potansiyeli de taranabilir. Cihazın daha yeni ve gelişmiş versiyonlarında, elektriksel iletkenliği ya da yüzeydeki elektron iletimini algılamak için uçtan akım geçirilmektedir.
AKM'nin temel çalışma prensibi
AKM esnek bir maniveladan ve (yüzeyi taramak için kullanılan) buna bağlı sivri bir uçtan oluşur. Manivela genellikle silikon ya da . Nanometre ölçeğinde eğrilik yarıçapı olan bir uç taşir. Uç, numune yüzeyine yakın bir mesafeye getirilince, uç ile yüzey arasındaki kuvvetler Hooke kanunu manivelanın bükülmesine yol açar. Duruma bağlı olarak AKM'de ölçülen kuvvetler mekanik temas kuvveti, van der Waals kuvveti, kılcallık kuvveti, kimyasal bağ, elektrostatik kuvvet, manyetik kuvvet, Casimir kuvveti, çözünme kuvveti, vb... olabilir. Kuvvetler ile birlikte, diğer başka özellikler eşzamanlı olarak özel tip algılama teknikleri ile ölçülebilir(bakınız , , , vs...). Genellikle maniveladaki bükülme, manivelanin bir ucundan dedektöre (bir dizi fotodiyot) yansıtılan bir lazer ışını sayesinde ölçülür.
Eğer uç sabit bir yükseklikte tarama yaparsa, yüzeye çarpıp hasar oluşturma riski doğar. Bu nedenle genellikle uç ile yüzey arasındaki kuvveti sabit tutmak ve mesafeyi ayarlamak amacıyla bir negatif geri besleme mekanizması kullanılır. Tipik olarak numune, “z” yönünde hareket edip yüksekliği ayarlayan, “x” ve “y” yönünde hareket edip taramayı sağlayan bir dizi piezoelektrik düzenek aracılığıyla taranır. Buna alternatif olarak, her biri x,y,z yönlerine karşılık gelen üç piezokristalin üç ayaklı düzeneği sayesinde tarama yapılabilir. Bu düzenek tüp tarayıcılarda görülen bozulmaları da ortadan kaldırır. Daha yeni düzeneklerde, tarama ucu dikey piezo tarayıcıya monte edilirken, incelenen örnek başka bir piezo grup kullanılarak X, Y doğrultusunda taranır. Acığa çıkan z = f(x,y) haritası yüzeyin topoğrafyasını temsil eder.
AKM uygulamaya bağlı olarak çeşitli modlarda kullanılabilir. Bu görüntüleme modları “statik” (temas) ya da “dinamik” (temassız) olabilir. Dinamik modlar manivelanın akustik ya da manyetik yollarla titreştirilmesini gerektirir ve yumuşak yüzeyler için daha yaygın olarak kullanılır.
Kaynakça
- ^ G. Binnig, C. F. Quate, C. Gerber: Atomic force microscope. In: Physical Review Letters. 56, 1986, S. 930–933.
 | Fizik ile ilgili bu madde seviyesindedir. Madde içeriğini genişleterek Vikipedi'ye katkı sağlayabilirsiniz. |
wikipedia, wiki, viki, vikipedia, oku, kitap, kütüphane, kütübhane, ara, ara bul, bul, herşey, ne arasanız burada,hikayeler, makale, kitaplar, öğren, wiki, bilgi, tarih, yukle, izle, telefon için, turk, türk, türkçe, turkce, nasıl yapılır, ne demek, nasıl, yapmak, yapılır, indir, ücretsiz, ücretsiz indir, bedava, bedava indir, mp3, video, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, resim, müzik, şarkı, film, film, oyun, oyunlar, mobil, cep telefonu, telefon, android, ios, apple, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, pc, web, computer, bilgisayar
Atomik kuvvet mikroskobu AKM ya da taramali kuvvet mikroskobu cok yuksek cozunurluklu bir Ulasilmis cozunurluk birkac nanometre olceginde olup optik tekniklerden en az 1000 kat fazladir AKM nin onculu olan taramali tunelleme mikroskobu 1980 lerin basinda Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer IBM Research Zurih te gelistirilmis arastirmacilara 1986 Nobel Odulu nu kazandirmistir Sonrasinda Binnig ve 1986 da ilk atomik kuvvet mikroskobunu gelistirdiler Ilk ticari AKM 1989 da piyasaya suruldu AKM nano boyutta goruntuleme olcme ve malzeme isleme konusunda en gelismis araclardan biridir Atomik Kuvvet Mikroskobunun Manivelasinin ve Sivri ucunun goruntusu Atomik kuvvet mikroskobunun blok diyagrami Bilgi mekanik bir ucun yuzeyi algilamasiyla toplanir Elektronik kumanda uzerinde bulunan kucuk fakat hassas hareketleri saglayan piezoelektrik ogeler dogrulugu kesin ve hassas bir tarama saglar Iletken manivelalar kullanmak suretiyle numune yuzeyindeki elektrik potansiyeli de taranabilir Cihazin daha yeni ve gelismis versiyonlarinda elektriksel iletkenligi ya da yuzeydeki elektron iletimini algilamak icin uctan akim gecirilmektedir AKM nin temel calisma prensibiAKM esnek bir maniveladan ve yuzeyi taramak icin kullanilan buna bagli sivri bir uctan olusur Manivela genellikle silikon ya da Nanometre olceginde egrilik yaricapi olan bir uc tasir Uc numune yuzeyine yakin bir mesafeye getirilince uc ile yuzey arasindaki kuvvetler Hooke kanunu manivelanin bukulmesine yol acar Duruma bagli olarak AKM de olculen kuvvetler mekanik temas kuvveti van der Waals kuvveti kilcallik kuvveti kimyasal bag elektrostatik kuvvet manyetik kuvvet Casimir kuvveti cozunme kuvveti vb olabilir Kuvvetler ile birlikte diger baska ozellikler eszamanli olarak ozel tip algilama teknikleri ile olculebilir bakiniz vs Genellikle maniveladaki bukulme manivelanin bir ucundan dedektore bir dizi fotodiyot yansitilan bir lazer isini sayesinde olculur Cam yuzeyin AKM kullanilarak elde edilmis topografyasi Yuzeyin mikro ve nano detaylari malzemenin puruzlulugunu gosteriyor Goruntu hacmi x y z 20um x 20um x 420nm Eger uc sabit bir yukseklikte tarama yaparsa yuzeye carpip hasar olusturma riski dogar Bu nedenle genellikle uc ile yuzey arasindaki kuvveti sabit tutmak ve mesafeyi ayarlamak amaciyla bir negatif geri besleme mekanizmasi kullanilir Tipik olarak numune z yonunde hareket edip yuksekligi ayarlayan x ve y yonunde hareket edip taramayi saglayan bir dizi piezoelektrik duzenek araciligiyla taranir Buna alternatif olarak her biri x y z yonlerine karsilik gelen uc piezokristalin uc ayakli duzenegi sayesinde tarama yapilabilir Bu duzenek tup tarayicilarda gorulen bozulmalari da ortadan kaldirir Daha yeni duzeneklerde tarama ucu dikey piezo tarayiciya monte edilirken incelenen ornek baska bir piezo grup kullanilarak X Y dogrultusunda taranir Aciga cikan z f x y haritasi yuzeyin topografyasini temsil eder AKM uygulamaya bagli olarak cesitli modlarda kullanilabilir Bu goruntuleme modlari statik temas ya da dinamik temassiz olabilir Dinamik modlar manivelanin akustik ya da manyetik yollarla titrestirilmesini gerektirir ve yumusak yuzeyler icin daha yaygin olarak kullanilir Kaynakca G Binnig C F Quate C Gerber Atomic force microscope In Physical Review Letters 56 1986 S 930 933 Fizik ile ilgili bu madde taslak seviyesindedir Madde icerigini genisleterek Vikipedi ye katki saglayabilirsiniz